红外热成像仪

设备参数

1.红外分辨率：640✖480（307200像素）。

2.高分辨率：1280✖960（1228800像素）。

3.IFOV：0.87mRad。

4.视场角：32°✖24°。

5.最小焦距：10cm。

6.精度：在25C环境温度下为±1℃或1%（以较大者为准）。

7.激光指示器：有，2级。

8.数码变焦：高达8倍连续变焦。

9.用户可定义标记：有，最多10个。

用户定义的测量方框：有，最多5个。

仪器产地及获得日期：美国 2021年。

设备功能

用于本项目功率模块的热分析，支撑封装可靠性设计。

1、精准清晰，满足各种尖端测试需求。TiX650 采用 640*480 探测器在超像素技术下达到1280*960 像素，同时在部分量程达到正负 1% 的精度，满足尖端研发测试需求。

2、多种配置，适应不同测试场景。TiX650 配置了五种不同的可更换镜头可以满足从 10um 到 500 米的测试距离，提供了 120HZ 的高帧频选项，轻松应对激光焊接/流水线跟踪等应用。

3、研发专用软件配套。TiX650 标配 Fluke SMART VIEW R&D 软件, 高标准研发软件提供 3D 温度，多条件触发，任意点数据提取等功能，保证科学试验及质量控制使命必达。

规格型号

福禄克FLKTIX650